Sistem Deteksi Kerusakan IC Logika Seri 74LS Tipe DIP Berbasis Arduino Nano

Pratama Putra, Ananda (2026) Sistem Deteksi Kerusakan IC Logika Seri 74LS Tipe DIP Berbasis Arduino Nano. Skripsi thesis, UNAMA.

Preview	Text BAB I.pdf Download (218kB) | Preview
	Text BAB II.pdf Restricted to Registered users only Download (448kB)
	Text BAB III.pdf Restricted to Registered users only Download (235kB)
	Text BAB IV.pdf Restricted to Registered users only Download (708kB)
Preview	Text BAB V.pdf Download (560kB) | Preview
Preview	Text BAB VI.pdf Download (181kB) | Preview
Preview	Text DAFTAR PUSTAKA.pdf Download (204kB) | Preview

Abstract

Integrated Circuit (IC) logika seri 74LS dengan kemasan Dual In-line Package (DIP) merupakan komponen dasar dalam sistem digital yang masih banyak digunakan pada kegiatan praktikum dan pembuatan prototype. Kerusakan pada IC logika dapat terjadi akibat berbagai faktor seperti tegangan berlebih, electrostatic discharge (ESD), atau kegagalan gate internal yang menyebabkan kegagalan fungsi logika meskipun secara fisik IC tampak normal. Metode pengujian manual menggunakan multimeter memerlukan waktu lama dan rawan kesalahan manusia. Penelitian ini bertujuan merancang sistem deteksi kerusakan IC logika seri 74LS tipe DIP berbasis Arduino Nano yang dapat mengidentifikasi kondisi IC secara cepat dan akurat. Sistem yang dirancang mengintegrasikan Arduino Nano sebagai mikrocontroller utama dengan ZIF Socket 14-pin sebagai media antarmuka komponen dan LCD 16x2 untuk menampilkan hasil pengujian. Pengujian dilakukan dengan membandingkan output fisik IC terhadap tabel kebenaran (truth table) yang tersimpan dalam program untuk setiap gate logika. Sistem mampu menguji enam jenis IC yaitu 74LS00 (NAND), 74LS02 (NOR), 74LS04 (NOT), 74LS08 (AND), 74LS32 (OR), dan 74LS86 (XOR). Hasil pengujian menunjukkan bahwa sistem berhasil mendeteksi kerusakan pada gate internal IC dengan akurasi tinggi dalam waktu singkat. Penggunaan ZIF Socket memberikan perlindungan mekanis terhadap pin IC dan meminimalkan risiko kerusakan fisik selama pengujian berulang. Sistem ini terbukti efektif meningkatkan efisiensi pengujian IC dibandingkan metode manual dan memberikan informasi diagnostik yang lebih detail.

Item Type:	Thesis (Skripsi)
Subjects:	Sistem Kontrol
Divisions:	Skripsi > Sistem Komputer > 2026
Depositing User:	Digital Library
Date Deposited:	26 Oct 2026 12:03
Last Modified:	26 Oct 2026 12:03
URI:	https://repository.unama.ac.id/id/eprint/5516

Actions (login required)

View Item